分析?評価技術
協立化學産業の品質を支える分析?評価技術
表面?界面の構造および分子構造等の情報を高感度に得られる最新分析機器の導入によりマイクロスケールからナノスケールに及ぶ物質?現象の原理解析が可能に。
このミクロ領域の情報を新規材料の設計?技術展開に役立てています。新しい分析方法の開発や評価技術の革新も行っています。
- 表面分析
-
- EPMA / SEM
- ToF-SIMS
- XPS
- 熱分析?レオロジー評価
-
- TGADSC
- レオメーター / DMA
- TMA
- 光DSC
- 電気
-
- 充放電試験機
- 成分分析?クロマト
-
- GC-MS
- 光學特性
-
- プリズムカプラー
- 観察
-
- 非接觸3次元表面形狀測定機
- TEM
- ハイスピードカメラ
- OCT
- 環境試験
-
- 恒溫恒濕槽 / 電食基板
- リフローシミュレーター
- サンシャインウェザーメーター
- 化學構造解析?分光
-
- ラマン分光光度計
- NMR
- FT-IR
- マニピュレーター
- XRD
- 液晶パネル評価裝置
-
- VHR / イオン密度測定裝置
- プロセス検証
-
- ディスペンサー
- 貼り合せ裝置
- 連続塗工機
- ドライグローブボックス